งานสัมมนาฝึกอบรม
XPS Technology from KRATOS, UK
เมื่อวันที่ 23 กุมภาพันธ์ 2552 ที่ผ่านมา ทางบริษัท พาราไซแอนติฟิค จำกัด ได้จัดสัมมนาเชิงบรรยายเรื่อง เทคนิคการวิเคราะห์และ ประยุกต์การใช้งานของเครื่อง X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) ณ โรงแรมแมนดาริน ชั้น 2 ห้องพรไพลิน โดยที่ในการสัมมนาในครั้งนี้ทางบริษัทฯ ได้รับเกียรติจาก Dr. Simon Hutton ผู้เชี่ยวชาญทางด้าน Surface Analysis ของ Kratos Analytical จากประเทศอังกฤษ ซึ่งในการบรรยายครั้งนี้ Dr. Simon ได้บรรยายถึงลักษณะและหลักการใช้งานของเครื่อง XPS ซึ่งเป็นเครื่องมือที่ใช้วิเคราะห์ในระดับพื้นผิว ที่สามารถให้ความละเอียดในการวิเคราะห์ทั้งเชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ
นอกจากนี้ยังกล่าวถึงการใช้เครื่องในการวัดความหนา(Depth Profile) และการดูภาพแสดงการกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวของวัตถุ พร้อมทั้งยกตัวอย่างผลวิเคราะห์จากการเครื่อง XPS ในด้านต่างๆ เช่น การวิเคราะห์พื้นผิวบนเส้นผม เพื่อหาสารเคมีจากยาสระผมที่เคลือบอยู่บนเส้นผม การหาความหนาของซิลิกอนออกไซด์ฟิล์ม(SIO 2) บนซิลิกอน เวเฟอร์(Silicon Wafer) ซึ่งได้รับความสนใจจากผู้เข้าร่วมสัมมนาเป็นอย่างยิ่ง
|
